概要
多様なエネルギースペクトルを持つ中性子照射施設を用いて、地上環境に加え航空機高度や宇宙環境を想定したソフトエラー発生率評価技術を確立しました。SRAMチップを対象とした検証により高精度評価が可能であることを確認しています。
連携期間
継続中
連携先
半導体製造企業 数社
成果
実測回数を最小化し、シミュレーション算式による標準評価手法を確立しました。宇宙機器・自動運転・データセンターなど高信頼用途への適用が期待されています。
活用できた拠点の特徴など、PR
地上中性子スペクトルを再現できる照射施設は世界でも限られており、高信頼半導体需要の拡大に対して評価インフラが不足しています。本拠点の評価手法により、複数施設での一貫したソフトエラー評価が可能となり、半導体開発の効率化と信頼性向上に貢献します。