半導体ソフトエラー評価技術確立 概要 多様なエネルギースペクトルを持つ中性子照射施設を用いて、地上での中性子起因ソフトエラーの発生率を求める校正技術を確立し、現行のSRAMチップに対する精度が十分であることを確認しました。 連携期間、連携先 連携期間： […]
